СИЛОВЫЕ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ПРИБОРЫ
0

Режим работы:

с 8:00 до 17:00

(по Московскому времени)

0

Статьи

  • Оценка долговременной надежности силовых полупроводниковых приборов с пассивацией фаски отечественными материалами

    4 Декабря 2025

    Проведен сравнительный анализ пассивирующих покрытий для высоковольтных диодов. Исследовано влияние типа кремнийорганического материала (отечественные и зарубежные аналоги) на долговременную надежность диодов Д253-1600-(22-24) через оценку деградации защитного слоя.

    подробнее

  • Анализ современных пассивирующих покрытий для фаски полупроводниковых приборов в условиях импортозамещения: проблемы и пути решения

    4 Декабря 2025

    В статье проводится комплексный анализ современных пассивирующих покрытий для фаски мощных полупроводниковых приборов в контексте задач импортозамещения. Рассмотрены основные классы материалов: неорганические диэлектрики (SiO₂, SiOxNy, a-C:H:SiOx, AlN), полиимиды и кремнийорганические компаунды. Для каждого класса систематизированы ключевые преимущества, недостатки и функциональные характеристики, такие как электрическая прочность, адгезия, термостабильность, барьерные свойства и технологичность. Особое внимание уделено проблемам технологической зависимости от иностранных материалов и оборудования. На основе сравнительного анализа выявлены наиболее перспективные направления для разработки отечественных аналогов, способных обеспечить требуемую надежность и долговечность полупроводниковых приборов.

    подробнее

  • Применение кремнийорганических полимеров в конструкции силовых полупроводниковых приборов

    4 Декабря 2025

    В данной статье описаны и рассмотрены основные формы силиконовых материалов и их целевые химические, физико-механические и диэлектрические характеристики, исходя из конструктивного назначения в составе силовых модулей прижимных и паяных конструкций. Опираясь на особенности отраслевого применения и практический опыт применения компании АО «Протон-электротекс», установлены ключевые критерии оценки и методы испытаний. Особое внимание уделено технологическим аспектам применения в составе полупроводниковых приборов прижимной конструкции

    подробнее

  • Анализ влияния технологических дефектов кремниевых пластин на параметры надёжности силовых полупроводниковых приборов

    4 Декабря 2025

    Данная работа посвящена системному анализу дефектов в кремниевых пластинах, которые являются критическим фактором, ограничивающим надежность и выход годной продукции мощных силовых приборов. В ней рассматриваются методы диагностики, классификация дефектов и современные технологические подходы к их минимизации, такие как геттерирование и отжиг. Целью исследования является установление причинно-следственных связей "технология дефект-отказ" и формирование рекомендаций по контролю качества для повышения эффективности производства.

    подробнее

  • Зависимость динамических и статических параметров силового диода от отклонений параметров диффузионных процессов при изготовлении

    4 Декабря 2025

    Методами приборно-технологического компьютерного моделирования изучена зависимость статических и динамических характеристик силовых низкочастотных диодов от отклонений параметров диффузионных процессов при изготовлении. Рассмотрены зависимости блокирующих параметров, импульсного прямого напряжения, а также обратного восстановления блокирующей способности силовых низкочастотных диодов при разных температурах. Результаты демонстрируют, как отклонение температуры при загонке и разгонке примесей оказывает влияние на кривые вольт-амперных характеристики и процесс обратного восстановления силового низкочастотного диода.

    подробнее

  • Компактная математическая модель процесса переключения силового P-I-N-диода из проводящего состояния в непроводящее в цепи с индуктивной нагрузкой

    4 Декабря 2025

    Разработана компактная математическая модель процесса переключения силового p-i-nдиода из проводящего состояния в непроводящее в электрической цепи с индуктивной нагрузкой. Проанализирована зависимость коммутационных параметров диода от силы прямого тока и скорости его спада перед переключением. Получены простые, удобные для инженерных расчетов аналитические выражения для коммутационных потерь диода.

    подробнее

  • Влияние распределения радиационных дефектов в базе силового диода на его статические и динамические характеристики

    4 Декабря 2025

    Методами компьютерного моделирования технологических процессов создан цифровой двойник высоковольтного низкочастотного p-i-n-диода D053-7100, выпускаемого АО «Протон-Электротекс» (г. Орёл, Россия). Путём имитационного моделирования этого диода изучена зависимость его статических и динамических характеристик от положения максимума распределения радиационных дефектов, образованных при облучении полупроводниковой структуры диода протонами.

    подробнее

  • Архитектура современного драйвера силовых IGBT ключей

    24 Января 2025

    В статье рассмотрены основные параметры драйверов IGBT. Приведены критерии для выбора драйвера. Рассмотрены схемы управления затвором. Определены основные и расширенные защитные функции и возможные способы их реализации. Рассмотрены единичные драйверы и драйверы для управления параллельного включенных IGBT. Приведены особенности построения параллельного драйвера.

    подробнее

  • Современные технические решения в конструкции IGBT модулей высокой мощности

    24 Января 2025

    В статье рассмотрены современные подходы к конструированию силовых полупроводниковых модулей. На примере приборов с основанием 140мм и модулей MIXM и MIXV АО «Протон-Электротекс» показано, как конструкция модулей развивалась по пути снижения индуктивности силовых цепей и оптимизации компоновки внешних соединений.

    В статье рассмотрены дальнейшие возможные пути развития конструкции IGBT модулей, включающие в себя кардинальную модернизацию структуры теплоотвода, а также использование кристаллов с возможностью контроля температуры и мгновенных значений тока в реальном времени

    подробнее

  • Влияние профиля легирования на динамические характеристики силовых низкочастотных диодов

    24 Декабря 2024

    Методами приборно-технологического компьютерного моделирования изучена зависимость динамических характеристик силовых низкочастотных диодов от технологических режимов и параметров диффузионных процессов при изготовлении.

    Рассмотрены параметры обратного восстановления блокирующей способности силовых низкочастотных диодов при разных температурах в зависимости от профиля легирования. Результаты демонстрируют, как различные параметры и режимы диффузионных процессов оказывают влияние на процесс обратного восстановления силового низкочастотного диода.

    подробнее

АО «Протон-Электротекс»

Адрес: Россия, 302040, г. Орел, ул. Лескова 19, пом.27, оф. 14

Отправить заявкуОтправить заявку
Задать вопросЗадать вопрос
Оставить отзывОставить отзыв